日本日置LCR測(cè)試儀HIOKI 3511-50
精巧，5ms快速測(cè)量LCR
● 高速測(cè)量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
● 高精度： ± 0.08%
● 內(nèi)置比較器
日本日置LCR測(cè)試儀HIOKI 3511-50的技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)量參數(shù) | │Z│,θ，C，L，D，Q，R |
|---|---|
| 測(cè)量方法 | 測(cè)量源：恒壓50mV，500mV，1Vrms(AC) 檢測(cè)：電壓，AC |
| 測(cè)量頻率 | 120Hz或1kHz |
| 測(cè)量量程 | │Z│，R：10mΩ～200.00MΩ（視條件而定） θ: -90.00～+90.00 ° C:0.940pF～999.99mF L： 1.600μH～200.00kH，D：0.0001～1.9900 Q： 0.85～999.99 |
| 基本精度 | │Z│: ± 0.08%rdg.，θ: ± 0.05 ° |
| 測(cè)量時(shí)間 | 快速：5ms～慢速：300ms（1kHz） 快速：30ms～慢速：400ms（120Hz） |
| 顯示 | zuida顯示值99999, LED顯示 |
| 比較器功能 | 設(shè)定：上、下限值，值 輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，隔離 |
| 外部打印 | 9442（使用9443-02/9444） |
| 電源供應(yīng) | 交流100～240V，50/60Hz（可選擇） |
| 體積及重量 | 210寬 × 100高 × 168厚mm，2.5kg |
| 附件 | 電源線×1，保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1 |
日本日置LCR測(cè)試儀IM3511-50的選件：
4端子探頭L2000:DC~8MHz，1m長(zhǎng)
4端子開爾文夾9140-10:DC~200kH，50 Ω，1 m長(zhǎng)
鑷形探頭L2001:線長(zhǎng)73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
測(cè)試治具9261-10:線長(zhǎng)1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測(cè)端口直徑：0.3~1.5mm
測(cè)試治具9262:DC～8 MHz, 直接連接型
SMD測(cè)試治具9263:直接連接型, DC～5 MHz 測(cè)試尺寸: 1mm～10.0mm
SMD測(cè)試治具9677:用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測(cè)試治具9699:用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB連接線9151-02:2m長(zhǎng)
